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La primera finalidad de  Fischione Instruments es la de asegurar el enfoque hacia el cliente a la vez que diseñar instrumentación innovadora dirigida a la comunidad científica que trabaja con microscopia.

Fischione Instruments fue fundada en 1966 y desde el principio trató de mejorar la tecnología existente dedicada a la microscopia electrónica.

 

Ion Mill Modelo 1010

Ion Mill Modelo 1010

 

 

En la actualidad, para la mayoría de los materiales avanzados el análisis mediante la microscopía de transmisión (TEM) es el único recurso para obtener información valiosa acerca de la estructura del material y sus propiedades. Para la preparación de muestras TEM, el desbastado mediante una corriente de electrones es una excelente técnica para crear un área transparente a los electrones.

 

El equipo Ion Mill Modelo 1010 es un sistema de desbastado/pulido de gran precisión, de diseño compacto y de sobremesa, para la creación de muestras TEM de alta calidad con grandes áreas transparentes a los electrones.

Dos fuentes iónicas de ánodo hueco (HAD) con ajuste independiente que permiten tanto el desbaste rápido como el pulido gradual de la muestra.

 

 

Algunas de las características mas relevantes del equipo son las siguientes:

 

  • Operación totalmente programable.

  • Dos fuentes iónicas de ánodo hueco (HAD) con ajuste independiente que permiten tanto el desbaste rápido como el pulido gradual de la muestra.

  • Control de gas automático e independiente para cada fuente iónica.

  • Sistema de vacío turbo, libre de aceite.

  • Angulo de ataque ajustable entre 0º-45º de forma continua.

  • Rotación o balanceo de la muestra de forma continua.

  • Soporte portamuestras refrigerado mediante nitrógeno líquido.

  • Terminación automática (opcional).

  • Etching químico (opcional).

  • Estereomicroscopio 7-30x para la observación de la muestra (opcional)

 

 

 


 

 Imagen TEM de GaSb despues del adelgazamiento

Ionico con enfriamiento con LN2


Sb doped Si
Courtesy of P.M. Voyles, D.A. Muller, J.L. Grazul, P.H. Citrin, H.-J.L. Gossmann, Lucent Technologies (
U.S.A.)



 

 

 

 

 volver

 

 

 


 
modelo 1010



 

XTEM specimen showing a poly-
crystalline copper film on an epitaxial
Ti0.5W0.5N/TiN superlattice on MgO

Courtesy of I. Petrov,
University of Illinois (U.S.A.)

 


XTEM YBCO superconductor specimen
Courtesy of G. Duscher and J. Luck, ORNL (
U.S.A.)
 

 

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