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En la actualidad, para la mayoría de
los materiales avanzados el análisis mediante la microscopía de
transmisión (TEM) es el único recurso para obtener información valiosa
acerca de la estructura del material y sus propiedades. Para la
preparación de muestras TEM, el desbastado mediante una corriente de
electrones es una excelente técnica para crear un área transparente a
los electrones.
El equipo Ion Mill Modelo 1010
es un sistema de desbastado/pulido de gran precisión, de diseño
compacto y de sobremesa, para la creación de muestras TEM de alta
calidad con grandes áreas transparentes a los electrones.
Dos fuentes iónicas de ánodo hueco (HAD)
con ajuste independiente que permiten tanto el desbaste rápido como el
pulido gradual de la muestra.
Algunas de las características mas
relevantes del equipo son las siguientes:
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Operación
totalmente programable.
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Dos fuentes
iónicas de ánodo hueco (HAD) con ajuste independiente que permiten
tanto el desbaste rápido como el pulido gradual de la muestra.
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Control de gas
automático e independiente para cada fuente iónica.
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Sistema de vacío
turbo, libre de aceite.
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Angulo de ataque
ajustable entre 0º-45º de forma continua.
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Rotación o
balanceo de la muestra de forma continua.
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Soporte
portamuestras refrigerado mediante nitrógeno líquido.
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Terminación
automática (opcional).
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Etching químico
(opcional).
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Estereomicroscopio
7-30x para la observación de la muestra (opcional)
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Imagen
TEM de GaSb despues del adelgazamiento
Ionico con
enfriamiento con LN2 |

Sb doped
Si
Courtesy of P.M. Voyles, D.A. Muller,
J.L. Grazul, P.H. Citrin, H.-J.L. Gossmann, Lucent Technologies
(U.S.A.) |
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modelo 1010

XTEM
specimen showing a poly-
crystalline copper film on an epitaxial
Ti0.5W0.5N/TiN superlattice on MgO
Courtesy of I. Petrov,
University of Illinois (U.S.A.)

XTEM YBCO
superconductor specimen
Courtesy of G. Duscher and J. Luck, ORNL (U.S.A.)
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