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La primera finalidad de  Fischione Instruments es la de asegurar el enfoque hacia el cliente a la vez que diseñar instrumentación innovadora dirigida a la comunidad científica que trabaja con microscopia.

Fischione Instruments fue fundada en 1966 y desde el principio trató de mejorar la tecnología existente dedicada a la microscopia electrónica.

 

Dimpling Grinder  200

Dimpling Grinder Modelo 200

 

 

  • Rango de adelgazamiento controlado
  • Preciso
  • Facil de utilizar
  • Operación automática
  • Alineamiento mediante microscopio

 

En la preparación de muestras de alta calidad para TEM es deseable que la muestra tenga un área amplia transparente a los electrones, pero resistente. Una de las técnicas que cumple estos requisitos es el dimpling. Esta técnica implica una rotación de la muestra sobre un eje mientras entra en contacto con un disco de pulido, el cual rota en un eje ortogonal, con lo cual se obtiene una muestra con un área central reducida a un grosor de pocas micras. La eliminación del material se realiza con un compuesto acuoso del medio de pulido elegido. Al adelgazar solo el área central queda un borde exterior resistente, lo que elimina la necesidad de recurrir a técnicas de manipulación especiales para muestras frágiles.

 

El Modelo 200 es un equipo mecánico de dimpling diseñado para la completa preparación de muestras TEM de alta calidad. Simplemente intercambiando las herramientas el modelo 200 puede utilizarse para cortar muestras de materiales en bruto, pulirlas y finalmente realizar el dimpling hasta conseguir que sea transparente al paso de electrones. El Modelo 200 es una herramienta indispensable cuando se precisa realizar Ion Milling como ultimo paso para el adelgazamiento de la muestra. Dado que la muestra se preadelgaza hasta ser transparente, o casi transparente a los electrones, con el ion milling solo se tienen que eliminar pequeñas cantidades de material, minimizando el adelgazamiento desigual y las irregularidades en la superficie.

 

El Modelo 200 además ofrece la opción de realizar un dimpling convencional en la muestra o bien una área expandida transparente a los electrones. Este área expandida se consigue al hacer rotar y oscilar la muestra  simultáneamente bajo el disco de pulido. Un área delgada de mayor tamaño es importante para aquellos materiales en los que es fundamental el análisis de las superficies de contacto, como los semiconductores y los compuestos, por lo que exponer la superficie de contacto completa proporciona un área significativamente mayor para el análisis.

 

 

 

 

 

 

 

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Modelo 200
 


Imagen HRTEM con filtro de Fourier
de una super retícula articifial de Co/Ru

 

 


Muestra XTEM formada por 19 secciones
individuales de un material microelectrónico

 


 
 

 

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