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NANOMANIPULADORES AUTOPROBE 300 - OMNIPROBE
 


Autoprobe 300 de Omniprobe

CARACTERISTICAS

* Líder en soluciones para la industria
* Control por PC con el software AutoProbe™
* Control real de movimiento X-Y-Z
* Análisis Eléctrico y Nanomecánico Avanzado
* Sujeción de rejillas mediante Short-Cut™
* Intercambio in situ del extremo de la sonda sin romper el vacío en tan sólo unos minutos

 

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DESCRIPCIÓN
 

El AutoProbe™ 300 representa la octava generación de sistemas de manipulación de Omniprobe. Incorpora los últimos desarrollos tecnológicos que mejoran la utilización en FIB y proporciona un elevado rendimiento incluso en los procedimientos más sofisticados. El corazón del AutoProbe™ 300 es un AutoProbe™ 200 que incorpora como mejora la posibilidad de intercambiar la punta de la sonda in situ. Esta característica permite al usuario obtener una nueva sonda sin necesidad de romper el vacío del sistema. Las puntas de la sonda se encuentran en un casete el cual se introduce y extrae de la cámara de vacío a través de la puerta de carga de la muestra.

Otro accesorio del AutoProbe™ 300 que configura una solución integrada es la herramienta externa Short-Cut™. Este dispositivo permite sujetar ex-situ la muestra a una rejilla TEM. Este paso mejora considerablemente la utilización de FIB ya que se elimina la colocación in situ en la rejilla. El procedimiento de colocación ex-situ de la muestra es simple y fiable. En primer lugar, las muestras se sujetan a la aguja de la sonda utilizando el método patentado de Omniprobe Total Release ™. La aguja de la sonda se posiciona en el anteriormente mencionado casete, el cual es transportado fuera del FIB hasta la herramienta Short-Cut™. Sólo con pulsar un botón, la aguja de la sonda, con la lámina sujeta, es alineada y transferida automáticamente a la rejilla TEM. Mientras tanto, el FIB, que normalmente realiza esta función, puede ser utilizado en otros trabajos.
 

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